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    1. 高壓電容器-電容器試驗中存在的技術(shù)問題

      發(fā)布時間:2020-12-25 分享到:

      (1) 對于開焊、虛焊的問題,測量絕緣電阻不能反映問題, 因為裂縫在高電壓下會擊穿放電,電力電容器仍然呈現(xiàn)正常的充放電現(xiàn)象,而使用輸出電壓很低的電容表, 更能發(fā)現(xiàn)電容量的變化;

      (2) 對于由多個元件串聯(lián)的電力電容器,即使大部分元件絕緣電阻已經(jīng)降為零,只要有一個電容元件的絕緣電阻合格,測量出來的絕緣電阻仍然是合格的, 但電容量和介質(zhì)損耗可能會明顯增加;

      (3) 有些電力電容元件擊穿后,極板間仍有一定的絕緣電阻,這時如果用低電壓測量電容量,由于擊穿點保持絕緣狀態(tài),所測量的電容量還是正常的,只有提高試驗電壓才能使故障點重新?lián)舸?/span>

      (4) 多元件電力電容器,總體tgδ很難發(fā)現(xiàn)個別元件的缺陷;

      (5) 個別元件不完全擊穿、絕緣電阻下降、引線虛焊或接觸不良都會造成介質(zhì)損耗增加,

      主要區(qū)別是:

      a. 個別元件不完全擊穿及引線虛焊時通常整體絕緣電阻并不下降;

      b. 個別元件未完全擊穿時隨著試驗電壓的提高逐漸形成完全擊穿,介損值可能會逐漸下降到正常范圍,而且整體電容量增加;

      c. 元件引線虛焊時,介損值也會隨電壓升高而下降,但電容量不會增加。

      (6) 絕緣電阻對介損的影響與電容器的電容量有關(guān),電容量越小影響越大。

      以上說明,電容器試驗中介質(zhì)損耗、絕緣電阻、電容量都是重要的判斷數(shù)據(jù)。當(dāng)對試驗結(jié)果有疑問時,應(yīng)進行綜合分析和判斷。

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