（1） 對于開焊、虛焊的問題，測量絕緣電阻不能反映問題， 因為裂縫在高電壓下會擊穿放電，電力電容器仍然呈現(xiàn)正常的充放電現(xiàn)象，而使用輸出電壓很低的電容表， 更能發(fā)現(xiàn)電容量的變化；

（2） 對于由多個元件串聯(lián)的電力電容器，即使大部分元件絕緣電阻已經(jīng)降為零，只要有一個電容元件的絕緣電阻合格，測量出來的絕緣電阻仍然是合格的， 但電容量和介質(zhì)損耗可能會明顯增加；

（3） 有些電力電容元件擊穿后，極板間仍有一定的絕緣電阻，這時如果用低電壓測量電容量，由于擊穿點保持絕緣狀態(tài)，所測量的電容量還是正常的，只有提高試驗電壓才能使故障點重新?lián)舸?/span>

（4） 多元件電力電容器，總體tgδ很難發(fā)現(xiàn)個別元件的缺陷；

（5） 個別元件不完全擊穿、絕緣電阻下降、引線虛焊或接觸不良都會造成介質(zhì)損耗增加，

主要區(qū)別是：

a. 個別元件不完全擊穿及引線虛焊時通常整體絕緣電阻并不下降；

b. 個別元件未完全擊穿時隨著試驗電壓的提高逐漸形成完全擊穿，介損值可能會逐漸下降到正常范圍，而且整體電容量增加；

c. 元件引線虛焊時，介損值也會隨電壓升高而下降，但電容量不會增加。

（6） 絕緣電阻對介損的影響與電容器的電容量有關(guān)，電容量越小影響越大。

以上說明，電容器試驗中介質(zhì)損耗、絕緣電阻、電容量都是重要的判斷數(shù)據(jù)。當(dāng)對試驗結(jié)果有疑問時，應(yīng)進行綜合分析和判斷。